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2024年12月17日 焦炭、石油焦、沥青焦、石墨、碳化硅系列国家标准样品 二级分类 碳化硅成分分析国家标准样品 国别 国内 样品状态 粉末 国家编号 GSB08-3221-2014-2 样品编号 ZBN431 2024年10月21日 碳化硅的测定是将样品用高温炉加热至1200℃以上，使其完全分解为二氧化碳和二氧化硅，用红外线吸收法或重量法测定二者的含量，计算碳化硅含量。碳化硅检测项目及相关标准和方法 - 百度知道
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2024年10月30日 定时取样取样方法样品数量根据产品批量和质量控制要求确定合理的样品数量，以确保检验结果的准确性。取样标准样品处理取样后的碳化硅样品应进行适当的处理，如研 2024年12月2日 用于测定碳化硅样品在加热过程中的质量变化，以评估其热稳定性和分解特性。 扫描电子显微镜（SEM） ： 配备能量色散X射线光谱（EDS）分析功能，用于分析碳化硅的 全面解析碳化硅材料测试分析、技术、方法_康派斯检测集团 ...
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2024年11月12日 碳化硅检测的样品来源广泛。 在生产过程中，包括刚合成的碳化硅粉末、经过加工后的碳化硅颗粒以及成型后的碳化硅制品，如碳化硅陶瓷、碳化硅晶片等。2024年8月6日 碳化硅检测包括化学成分、物理性能、微观结构和表面形貌等，需预处理样品，选用XRF、ICP-OES、SEM等仪器检测，确保质量和性能，为应用提供保障。 摘要由作者通过 碳化硅检测机构：检测项目及仪器
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2015年3月6日 近日，国家标准委发布关于批准发布《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品的公告。《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品由质检总局与国家标准化 碳化硅在高温下，其化学反应会导致质量变化，该方法通过热重分析仪来测量样品在高温下质量的变化，根据变化数据来推算出样品组成成分。 三、碳化硅的应用碳化硅的测定 - 百度文库
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2023年2月4日 1.本发明涉及碳化硅技术领域，尤其涉及一种商品碳化硅中c及sic含量的测定方法。 背景技术： 2.商品碳化硅是以硅石和石油焦为主要原料，在电阻炉中以2000~2500℃的高温反应制得，其杂质成分主要是尚未完全反应 2023年11月22日 碳化硅（SiC）是由碳元素和硅元素组成的一种化合物半导体材料，是制作高温、高频、大功率、高压器件的理想材料之一。 在电力电子、光电子、微波电子等领域中得到 解决方案ICP法测定碳化硅材料中的铁、镁、钛、铝、钙、钠含量
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国家标准委发布《耐火材料用碳化硅标准样品》-31GSB 07-3237-2014甲醇中乙酸正丁酯溶液标准样品 1年 32GSB 08-3238-2014中国ISO标准砂备用砂标准样品 1年33GSB 16-3239-2014羊绒 本发明涉及碳化硅的检测方法，特别涉及一种适用于科研单位、大专院校、检测中心及相应生产厂家。背景技术X射线荧光光谱分析法是对各种材料进行元素分析的一种现代化的通用分析方 应用x射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法
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《耐火材料 用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品由质检总局与 国家标准 化管理委员会联合发布，具体名录见附件。 附件：48项国家标准样品 序号 国家标准样品编号 国家标准样品名称 2025年2月17日 碳化硅在服务器电源中率先得到应用。得益于碳化硅极小的反向恢复损耗，碳化硅二极管较早便取代了PFC中的硅二极管，立竿见影的提高了PFC的效率。随着碳化 碳化硅二极管JBS和MPS物理机制和应用场景的区别 - 世 ...
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15GSB 08-3221-2014耐火材料用碳化硅标准样品 5 年 16GSB 08-3222-2014陶瓷材料用氮化硅标准样品 5年 17GSB 16-3223-2014家用纺织品起球标准样照 10年 18 GSB 16-3224-2014中国 2024年12月26日 将碳化硅样品通过真空吸附固定在设备的夹具上，确保牢固且碳化硅样品与研磨盘接触良好，使受力均匀。 向研磨盘上均匀滴撒研磨液，开启设备，使研磨盘低速旋转，缓 碳化硅研磨抛光流程-合美半导体（北京）有限公司
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2024年6月4日 碳化硅的电阻率可以通过四探针法进行测量。四探针法是一种常用的电阻率测量方法，它通过在样品上施加电流和测量电压来计算电阻率。该方法可以消除接触电阻对测量结果 2024年12月29日 碳化硅 ，这一化学物质，究竟是何方神圣？是否与碳化硅陶瓷和碳化硅半导体有所关联？或许我们会误以为这三者是同一物质，但事实上，它们之间存在着显著的差异。为 碳化硅陶瓷与碳化硅半导体：两者有何不同？ - 百家号
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2025年1月21日 碳化硅MOSFET产品详情碳化硅MOSFET具有优秀的高频、高压、高温性能，是目前电力电子领域最受关注的宽禁带功率半导体器件。在电力电子系统中应用碳化硅MOSFET 2023年2月4日 一种商品碳化硅中c及sic含量的测定方法 技术领域 1.本发明涉及碳化硅技术领域，尤其涉及一种商品碳化硅中c及sic含量的测定方法。 背景技术： 2.商品碳化硅是以硅石和石油焦为主要原料，在电阻炉中以2000~2500℃的高 一种商品碳化硅中C及SiC含量的测定方法与流程 - X
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2025年2月19日 实验改进 石墨覆盖：在铝电极和样品之间使用石墨覆盖，以提高碳化硅的蚀刻速率，并防止产生残留物。 参数优化：通过增大射频功率和流速 ...2020年12月4日 近，百特实验室用Bettersize2600激光粒度仪测了一个碳化硅样品，粒度分布图如下： 开始，我们对这个结果产生了疑惑：以往的碳化硅样品的粒度分布图形不都是很漂亮的 从测试含有纳米颗粒的碳化硅样品看Bettersize2600的优良性能
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2024年2月1日 6.根据权利要求1所述的碳化硅晶片的亚表面损伤检测方法，其特征在于，所述方法还包括： 对不同加工条件下的碳化硅晶片样品进行超精密抛光处理，并驱动拉曼光谱仪对 2024年12月27日 首先，选取适量的碳化硅样品，并进行细粉研磨，以确保样品的均匀性。然后，取约0.1g 的样品称量入量瓶中。2.仪器的操作 将称量好的样品放入高频红外碳硫分析仪的 高频红外碳硫分析仪测定碳化硅中总硫 - 豆丁网
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2015年3月6日 近日，国家标准委发布关于批准发布《耐火材料用碳化硅 标准样品》等48项国家标准样品的公告。 《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品由质检总局与国家标 单晶晶向测试是评估碳化硅单晶质量和晶格定向性的重要方法。本文将介绍碳化硅单晶晶向测试的原理、方法和主要仪器。 1. 背散射Laue衍射法：将碳化硅单晶样品放在背散射Laue衍射仪的 碳化硅单晶晶向测试方法_百度文库
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2024年10月18日 虽然这款1700V的碳化硅模块还是样品阶段，但对于国产碳化硅产业链来说，不失为一个一个重要节点性的产品！ *免责声明：本文由作者原创。 文章内容系作者个人观点， 2013年4月24日 二、碳化硅的测定将测定完游离碳后的样品取出，冷却后加入助溶剂，重新设定管式炉温度1200℃，将样品放入管式炉红外碳硫仪上分析总碳含量，再换算成碳化硅的含量 一种碳化硅脱氧剂中游离碳及碳化硅的测定方法_百度文库
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2024年8月6日 碳化硅(SiC)是一种重要的半导体材料，具有高硬度、高熔点、高热导率等优良性能，广泛应用于电子、机械、化工等领域。为了确保碳化硅的质量和性能，需要对其进行检测 2024年12月11日 本实验采用的碳化硅样品为4HSiC单晶片，尺寸为10mm×10mm×0.5mm。2. 实验设备 （1）高温炉：用于对碳化硅样品进行高温氧化处理；（2）氧气流量计：用于控制氧 碳化硅高温氧化工艺的研究毕业论文0605 - 豆丁网
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2024年10月21日 样品制备 将碳化硅单晶样品切割成适当尺寸，绉过研磨、抙光等处理，使其表 面平整无损伤。测量原理 通过观察样品表面戒内部的位错形态，统计位错数量并计算位错密 2024年4月11日 碳化硅 (SiC) 是一种晶体材料，用于开发各种电子设备，包括晶体管和其他高功率、高频和高温设备。 ... 样品制备过程利用创新的 TESCAN 提出功能，可在提出后对样品进行完整的 360° 旋转和无限的提出角度几何调整， TESCAN｜用于SiC晶体制备和表征大型TEM样品的
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2023年4月19日 近日，中国电科55所与一汽联合推动碳化硅功率器件及模组科技创新，研发的首款750V碳化硅功率芯片完成样品流片，首款全国产1200V塑封2in1碳化硅功率模块完成A样件 碳化硅含量的测定方法-碳化硅含量的测定方法嘿，碳化硅含量的测定方法啊，那咱就来唠唠。一种常见的方法是化学分析法。这就像给碳化硅做个“体检”。先把要检测的样品准备好，弄得碎碎 碳化硅含量的测定方法_百度文库
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近日，中国电科55所与一汽联合推动碳化硅功率器件及模组科技创新，研发的首款750V碳化硅功率芯片完成样品流片，首款全国产1200V 塑封2in1碳化硅功率模块完成A样件试制。 碳化硅作为 2024年12月10日 对于碳化硅材料的红外光谱分析，首先要进行样品的预处理。常 见的处理方法包括将样品制成固体片或涂敷样品在固体载体上。然后， 对于碳化硅样品的红外光谱分析， 碳化硅的红外光谱 .pdf 6页 VIP - 原创力文档
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2020年11月19日 本发明公开了一种分析测定碳化硅中氮含量的方法，包括以下步骤：步骤1、称量破碎试样制成干燥的碳化硅微粉：步骤2、试样包裹；步骤3、选择分析仪器：步骤4、选用 2024年11月12日 碳化硅检测的样品 来源广泛。在生产过程中，包括刚合成的碳化硅粉末、经过加工后的碳化硅颗粒以及成型后的碳化硅制品，如碳化硅陶瓷、碳化硅晶片等。对于粉末样 碳化硅检测：涵盖化学成分、物理性能和微观结构分析等项目
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2024年10月30日 同时，取样器具应保持清洁和干燥，以避免对样品造成污染。PART13化学分析方法的标准应用样品制备按照标准方法制备碳化硅样品，包括破碎、筛分、混合等步骤。样品
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